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设备适用于芯片金线键合之后的视觉AOI检测。适用来料生产模式...

用于检测功率模块底面弧度，可实现全自动或半自动检测。可采...

适用于单个器件的快速扫描分析和批量放置样品同步进行缺陷识别，...