发布时间:2024-07-16 浏览人数:1人查看
在上一篇文章中,我们探讨了智能化变革如何通过AI技术重塑工业瑕疵检测的整体框架。这一篇,我们将深入解析AI在工业瑕疵检 测中的具体技术应用,详细介绍常用的框架和算法原理。通过了解这些核心技术,可以更全面地掌握如何利用AI提升工业生产的质量控制效率,并在实际应用中充分发挥其潜力。
有监督学习和无监督学习
在基于深度学习的工业瑕疵检测中,有监督学习和无监督学习是两种主要的方法。有监督学习依赖于标注的瑕疵数据进行训练,能够提供高精度的检测结果。常见的方法包括最新的 Vision Transformers (ViTs) 和 YOLO系列。这些模型能够高效地处理复杂的图像数据,并实现精确的瑕疵检测,例如在高精密制造业中用于检测电子元件的微小缺陷。这些缺陷可能包括细小的裂纹、焊接不良或表面不平整,使用有监督学习能够显著提高检测的准确性和效率。
此外,结合有监督学习和无监督学习的方法也逐渐成为趋势。通过无监督学习进行初步筛选,然后使用有监督学习进行精细分类和定位,可以提高检测系统的整体性能。例如,先使用 PaDiM 模型检测可能的异常区域,然后利用 ViTs 对这些区域进行精确分类和分析。这种结合的方法不仅提高了检测精度,还能有效应对多样化和复杂的瑕疵检测需求,提升工业检测系统的智能化水平。
无监督异常检测算法框架Anomalib
Anomalib是一个新兴的开源异常检测框架,专门为工业缺陷检测和其他异常检测任务设计,主要专注于无监督和弱监督的异常检测方法,其中收集了最先进的异常检测算法,例如PaDiM、PatchCore、CFlow-AD等等。不仅如此,Anomalib还提供了便捷的 API 和丰富的文档,便于研究人员和工程师进行自定义开发。
基于ViT的工业异常检测
基于YOLO的工业异常检测
基于VLM的工业异常检测
参考文献
[1] Defard, T., Setkov, A., Loesch, A., & Audigier, R. (2020). PaDiM: A Patch Distribution Modeling Framework for Anomaly Detection and Localization (arXiv:2011.08785). arXiv. https://doi.org/10.48550/arXiv.2011.08785
[2] Roth, K., Pemula, L., Zepeda, J., Scholkopf, B., Brox, T., & Gehler, P. (2022). Towards Total Recall in Industrial Anomaly Detection. 2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 14298–14308.
[3] Zhu, J., & Pang, G. (2024). Toward Generalist Anomaly Detection via In-context Residual Learning with Few-shot Sample Prompts (arXiv:2403.06495). arXiv. https://doi.org/10.48550/arXiv.2403.06495
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